Для разработки и производства современных аналоговых и силовых полупроводниковых приборов, включая приборы на основе GaN и SiC, требуется параметрическое тестирование, которое существенно повышает производительность измерений, поддерживает широкий спектр тестируемых устройств и сводит к минимуму стоимость тестирования. Компания Keithley уже больше 40 лет успешно решает эти и другие важные задачи в таких критически важных секторах, как интеграция процессов, мониторинг систем управления процессами, сортировка кристаллов на производственных линиях (например, приёмочные испытания пластин или тестирование с использованием эталонных кристаллов), а также надёжность устройств.
Системы параметрического тестирования Keithley серии S530 с программным обеспечением KTE 7 позволяют применять чрезвычайно гибкие высокоскоростные конфигурации, которые можно наращивать по мере появления новых областей применения и изменения требований. Система S530 обеспечивает тестирование устройств напряжением до 200В, а S530-HV — напряжением до 1100 В на любом выводе с повышением производительности тестирования до 50 % по сравнению с аналогичными системами других компаний. Новым решением для KTE 7 является дополнительный модуль Testhead, обеспечивающий непосредственное соединение с зондовой станцией и использование ранее применяемых зондовых плат; калибровку на уровне системы по выводам, которая соответствует требованиям ISO-17025 и поддерживает требования автомобильного стандарта IATF-16949; а также самый простой и плавный метод перехода с устаревших систем S600 и S400 с полной корреляцией данных и повышением скорости.
Характеристики S530
- Большой выбор опций интерфейса для зондовой станции, включая модуль Testhead; поддержка ранее используемых систем Keithley, а также систем Keysight
- Стандартизованная в промышленности программная среда KTE
- Тестирование всех высоковольтных и низковольтных параметров за одно касание пробника
- Полностью автоматическая калибровка на уровне системы, выполняемая при помощи нового модуля коммутации эталонов (SRU), соответствует самым современным стандартам качества
- Программные инструменты HealthCheck, входящие в состав ПО KTE 7, значительно повышают время работы системы и целостность данных
- Встроенная защита от переходного перенапряжения и перегрузок по току сокращает до минимума дорогостоящие простои системы и повреждения пластин
- Соответствует требованиям по калибровке ISO-17025 и поддерживает требования стандарта IATF-16949
- Обеспечивает поддержку интерфейса SECS/GEM при работе с пластинами диаметром 300 мм
Основные достоинства:
- Самая низкая в классе стоимость обслуживания
- Возможность измерения пикоамперных токов и ниже (система s530 малого тока)
- Источники-измерители подают напряжение 1 кВ на любой контакт системы (высоковольтная система s530)
- Возможность распределенного параллельного тестирования помогает сократить время измерений
- Источники-измерители мощностью 100 Вт подают ток
Номер в Госреестре | Наименование СИ | Обозначение типа СИ | Изготовитель | Срок свидетельства или заводской номер |
---|---|---|---|---|
не в реестре |
МОДЕЛЬ | ЧИСЛО КОНТАКТОВ И СХЕМА ИЗМЕРЕНИЯ | ЧИСЛО КАНАЛОВ ИСТОЧНИКА-ИЗМЕРИТЕЛЯ | МАКС. НАПРЯЖЕНИЕ | МАКС. ТОК |
Параметрическая система тестирования s530 малого тока | До 60 контактов (4-проводная схема или схема Кельвина) | от 2 до 8 | 200 В (источник-измеритель серии 2636B) | 1a |
Параметрическая система тестирования s530 высокого напряжения | До 60 контактов (4-проводная схема или схема Кельвина) | от 2 до 8 | 1100 В (источник-измеритель серии 2410) | 1a |
Подробные технические характеристики, информация производителя, брошюры:
-
- Tektronix Каталог продукции 2019.pdf
- Каталог продукции Tektronix 2020.pdf
Каталоги производителя: