Терагерцовый усилитель мощности является важной частью терагерцового интерфейса и тесно связан с производительностью всей системы машины. Как выполнить полное тестирование производительности терагерцового усилителя мощности S-параметр, точка сжатия P1 дБ и насыщенная выходная мощность необходимы для разработки терагерцовых систем восприятия, связи и других систем.
Типичный метод тестирования терагерцового усилителя мощности требует наличия двух различных систем для проведения полной проверки характеристик S-параметра, точки сжатия P1 дБ и выходной мощности насыщения. Например, для проверки S-параметра терагерцового усилителя мощности требуется анализатор векторной сети терагерцового диапазона (как показано на рисунке 1), в то время как для проверки производительности точки сжатия P1dB и насыщенной выходной мощности требуется источник терагерцового сигнала, измеритель терагерцовой мощности и другие тестовые приборы (как показано на рисунке 2). Вся тестовая система очень сложна, к ней предъявляется множество требований к приборам и оборудованию, а эффективность тестирования невысока. В процессе тестирования микросхемы терагерцового усилителя мощности эта проблема стала еще более заметной.
Рисунок 1 Структурная схема системы тестирования S-параметров
Рисунок 2 Блок-схема системы тестирования производительности, такой как точка сжатия P1dB и выходная мощность насыщения
Ввиду низкой эффективности полного тестирования производительности типичного терагерцового усилителя мощности по S-параметру, точке сжатия P1dB и выходной мощности насыщения, CLP Cosiyi Technology Co., Ltd. может предоставить полнофункциональное и эффективное решение для тестирования усилителя мощности на основе терагерцового векторного сетевого анализатора.Система состоит из двух частей: модуля расширенного спектра терагерцового векторного сетевого анализатора и хоста микроволнового векторного сетевого анализатора, независимо разработанного Dianke Siyi, и имеет два семейства тестов: стандартный класс и класс сжатия с усилением. На рисунке 3 представлена фотография полевых испытаний усилителя мощности GaN с частотой 200 ГГц, построенного на базе этой системы.
Рисунок 3 Фотография полевых испытаний усилителя мощности GaN 200 ГГц
В стандартной тестовой среде может быть выполнена проверка S-параметра терагерцового усилителя мощности, как показано на рисунке 4; проверка производительности точки сжатия P1dB и выходной мощности насыщения терагерцового усилителя мощности также может быть выполнена в условиях фиксированной частоты, как показано на рисунке 5. При различных условиях условия входной мощности, (а) - результат теста усиления на 220 ГГц терагерцового усилителя мощности, и (б) - результат теста точки сжатия P1dB на 200 ГГц терагерцового усилителя мощности.
Рисунок 4 Результаты тестирования S-параметров терагерцового усилителя мощности GaN 200 ГГц
На рисунке 5 в категории "Стандарт" представлены результаты теста усиления на сжатие терагерцового усилителя мощности
В среде тестирования сжатия с усилением сжатые данные по всем частотам терагерцового усилителя мощности могут быть получены с помощью одного сканирования. В то же время метод поиска точки сжатия поддерживает поиск различных характеристик сжатия, таких как сжатие с относительным усилением, сжатие с относительным максимальным повышением и сжатие с резервным питанием. результаты измерений также могут быть более наглядно представлены с помощью трехмерного дисплея, как показано на рисунке 6. В диапазоне частот 180 ГГц-220 ГГц (а) - результат тестирования коэффициента усиления в зависимости от входной мощности, и (б) - результат тестирования точки сжатия P1dB в зависимости от входной мощности. Эффективность тестирования и точность определения точки сжатия значительно повышаются.
На рисунке 6 в категории "Стандарт" представлены результаты теста усиления на сжатие терагерцового усилителя мощности
Полнофункциональное и эффективное решение для тестирования усилителя мощности, основанное на терагерцовом векторном сетевом анализаторе, не только повышает эффективность тестирования терагерцового усилителя мощности, но и повышает точность тестирования; в то же время решение может быть использовано не только для тестирования модуля терагерцового усилителя, но и для других целей. также для тестирования микросхем, таких как матрица.